ICS 105型集成電路掃描儀,可對集成電路和小型組件進(jìn)行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況,可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)對磁場或電場進(jìn)行測量,并在電腦上顯示測量結(jié)果。此外,探頭可自動旋轉(zhuǎn)以確定磁場的準(zhǔn)確方向。 可單獨(dú)訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量,空間分辨率可達(dá) 50μm。
ICS 105型集成電路掃描儀,可對集成電路和小型組件進(jìn)行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況,可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)對磁場或電場進(jìn)行測量,并在電腦上顯示測量結(jié)果。此外,探頭可自動旋轉(zhuǎn)以確定磁場的準(zhǔn)確方向。 可單獨(dú)訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量,空間分辨率可達(dá) 50μm。